平頂球面圓盤檢測摘要:平頂球面圓盤檢測需通過幾何精度、材料性能、表面質(zhì)量等多維度評估,確保其符合工業(yè)應(yīng)用標準。核心檢測項目包括直徑偏差、球面半徑誤差、平面度等參數(shù),覆蓋金屬、陶瓷、工程塑料等材料類型。檢測過程嚴格遵循ASTM、ISO及GB/T標準,采用三坐標測量機、激光干涉儀等設(shè)備完成數(shù)據(jù)采集與分析。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
直徑偏差(公差范圍:±0.01mm)
球面半徑誤差(允許偏差:±0.02mm)
表面粗糙度(Ra≤0.4μm,Rz≤3.2μm)
平面度(允許值:0.005mm/m2)
平行度(公差帶:0.01mm)
金屬合金圓盤(如鋁合金、鈦合金)
工程塑料圓盤(如PEEK、尼龍)
陶瓷基復(fù)合材料圓盤
玻璃制品圓盤(光學(xué)級、工業(yè)級)
橡膠密封圓盤(氟橡膠、硅橡膠)
直徑偏差檢測:GB/T 1800.2-2020《產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范》
球面半徑測量:ISO 10110-5:2015《光學(xué)元件表面形狀公差》
表面粗糙度評定:ISO 4287:1997《表面結(jié)構(gòu)輪廓法術(shù)語》
平面度檢測:ASTM E177-14《幾何尺寸與公差標準》
平行度校準:GB/T 1184-1996《形狀和位置公差》
三坐標測量機(Hexagon COORD3,精度0.8μm+3μm/m)
激光干涉儀(Renishaw XL-80,分辨率0.001μm)
表面粗糙度儀(Mitutoyo SJ-410,符合ISO 4288標準)
圓度儀(Taylor Hobson Talyrond 585,徑向精度0.01μm)
輪廓投影儀(Nikon V-12B,放大倍率50X-500X)
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
中析平頂球面圓盤檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師
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